KOSAKA臺階儀ET200A薄膜測厚儀

簡要描述：KOSAKA臺階儀ET200A薄膜測厚儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。
ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結構，安定的測量過程及微小的測定力可對應軟質樣品表面。
該型號臺階儀采用直動式檢出器，重現性高。

產品型號：
廠商性質：代理商
更新時間：2024-01-29
訪問量：1020

產品咨詢聯系我們

產品分類

Product Category

分析儀

氣體吸附分析儀 XRF分析儀數字溫度計自動采集裝置溫度檢定系統壓力校驗儀電極測量系統電池分析儀電能質量分析儀清潔度測試儀貼片機輪廓儀臺階儀 | 薄膜測厚儀音頻分析儀量熱儀全自動反應量熱儀糙度儀材料降解分析儀光化分析儀差分時域反射計

查看全部

詳細介紹

品牌	其他品牌	應用領域	能源,電子/電池,汽車及零部件,電氣

KOSAKA臺階儀ET200A薄膜測厚儀

產品概述：

ET200A臺階儀適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。

ET200A臺階儀擁有高精度．高分解能，搭配一體花崗巖結構，安定的測量過程及微小的測定力可對應軟質樣品表面。

該型號臺階儀采用直動式檢出器，重現性高。

QQ截圖20230331111133.png

KOSAKA臺階儀ET200A薄膜測厚儀產品參數

最大試片尺寸	Φ200mm×高度50mm
重現性	1σ ≤ 1nm
測定范圍	Z:600um X:100mm
分解能	Z:0.1nm X:0.1um
測定力	10UN~500UN (1mg-50mg)
載物臺	Φ160mm, 手動360度旋轉

ET200A基于Windows 操作系統為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等。使用金剛石（鉆石）探針接觸測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用。ET200A 能精確可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨損度、薄膜應力等多種表面形貌技術參數。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設計，可直接觀察到探針工作時的狀態，更方便準確的定位測試區域。

產品咨詢

留言框

產品：
您的單位：
您的姓名：
聯系電話：
常用郵箱：
省份：
詳細地址：
補充說明：
驗證碼：

請輸入計算結果（填寫阿拉伯數字），如：三加四=7

上一篇：PFX2511充放電系統控制器電池測試系統
下一篇：KOSAKA臺階儀ET4000薄膜測厚儀

一区二区精品亚洲欧美日韩,国产免费无遮挡在线观看,91精品影视作品在线观看,国产高中生精品日韩在线

KOSAKA臺階儀ET200A薄膜測厚儀

留言框

產品：

您的單位：

您的姓名：

聯系電話：

常用郵箱：

省份：

詳細地址：

補充說明：

驗證碼：