使用產品封裝

Chip on Subount，DIP，TO

系統參能

216個芯片或者器件

測試參數

監控Vds/Vce電壓，Vgs/Vbe電壓，Ids/Ice電流，并可以掃描曲線

測試板

與測試系統共用老化測試板

ID識別

支持產品位置與測試版SN綁定

系統尺寸

1700(H)X800(W)X820(D)

系統功耗

4000W

技術指標

溫度范圍

-20C ~ 150C

溫度分辨率

0.1C

溫度波動性

0.5C (如按GB/T 5170.2-1996表示，則為+/-0.25C

溫度偏差

+/-1.5C

溫度均勻性

1C (濕熱實驗，濕度>90%RH時)

1.5C (溫度<100C時)

2C (其他條件)

升溫時間

-20C -> 150C <60mins

降溫時間

20C -> -20C <45mins

濕度范圍

25~98%RH (參考溫濕度可控范圍圖，無有源濕、熱負載)

濕度分辨率

0.1% RH

相對濕度偏差

+/-2% RH (濕度>75% RH時)

+/-5% RH (濕度<=75% RH時)

Vds/Vce電壓

1-200V,精度<+/-0.1%+20mV

1-100V,精度<+/-0.1%+10mV

0~15V,精度<+/-1%+5mV

Vgs/Vbe電壓

-20~+20V,精度<+/-0.1%+1mV

-5~+5V,精度<+/-1%+0.4mV

Ids/Ice電流

0~4000mA，精度+/-0.1%+1mA

0~100mA，精度+/-1%+0.1mA

Igs/Ibe

1uA~2mA,精度+/-1%+0.5uA

電流電壓過沖

在任何情況下沒有過沖

電流電壓振蕩

在任何情況下沒有振蕩

通用指標

操作系統

Windows 10

軟件功能

可配置軟件平臺，并支持客戶二次開發

軟件語言

C# 和 VS

數據庫類型

SQL

系統供電

100-380V, 50/60Hz